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=内山皓平君 IEEE HISS優秀研究賞受賞=

 
2011年11月12日−13日に広島大学東広島キャンパスで開催された第13回IEEE 広島支部学生シンポジウム(HISS)において内山皓平君が下記の研究発表を行い,IEEE HISS優秀研究賞を受賞しました.中国地区の各大学教員からなるHISS研究賞審査委員会の審査により,143件の発表の中から19件の論文が選ばれました.本人にとって今後の励みとなり,また,後輩達への大きな励みにもなりました.


HISS優秀研究賞受賞者: 内山皓平(博士前期課程2年)

講演題目: ナノスケールMOSFETの界面特性評価

共著者:土屋敏章(島根大学総合理工学部)